SANKO三高超聲波薄膜測(cè)厚儀Quintosonic

簡要描述：SANKO三高超聲波薄膜測(cè)厚儀Quintosonic
金屬（鐵，非鐵）和非金屬（塑料，玻璃等）測(cè)量在基材上的膜厚度。還要測(cè)量薄膜本身的厚度。
◆您可以一次測(cè)量Z多3層的每層厚度和總數(shù)。
◆底座（金屬，非金屬）本身的厚度也可以測(cè)量。

訪問次數(shù)：931

所屬分類：膜厚儀水分計(jì)

更新時(shí)間：2021-06-18

廠商性質(zhì)：代理商

詳情介紹

品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	5千-1萬

SANKO三高超聲波薄膜測(cè)厚儀Quintosonic

◆	金屬（鐵，非鐵）和非金屬（塑料，玻璃等）測(cè)量在基材上的膜厚度。還要測(cè)量薄膜本身的厚度。
◆	您可以一次測(cè)量zui多3層的每層厚度和總數(shù)。
◆	底座（金屬，非金屬）本身的厚度也可以測(cè)量。

產(chǎn)品規(guī)格

◆	FRP型，環(huán)氧樹脂型，環(huán)氧樹脂+粉末混合型，聚氨酯型4ch電路系統(tǒng)。
◆	混凝土，板巖板，木材薄膜厚度和樹脂厚度三種測(cè)量模式。
◆	測(cè)量厚度參考片·存儲(chǔ)器的聲速值。以這個(gè)速度測(cè)量。

產(chǎn)品規(guī)格

?SAMAC-FN

?SAMAC-Pro

?プローブ部

測(cè)定方式	電磁式?過電流式両用（素地自動(dòng)判別）
測(cè)定範(fàn)囲	鉄素地：0～2.5mm 非鉄金屬素地：0～2.0mm
表示分解能	1μm：0～999μm(鉄?非鉄共通) 切換により 0.1μm：0～400μm(鉄?非鉄共通) 0.5μm：400～500μm(鉄?非鉄共通) 0.01mm：1.00～2.5mm(鉄素地) 0.01mm：1.00～2.0mm(非鉄素地)
測(cè)定精度 (平滑面に対して垂直に測(cè)定）	0～100μm：±1μm(鉄?非鉄共通) または指示値の±2％以內(nèi) 101μm～2.5mm：±2％以內(nèi)（鉄素地） 101μm～2.0mm：±2％以內(nèi)（非鉄素地）
メモリ	検量線（FN：1本、Pro：10本）測(cè)定値20,000點(diǎn)(Pro）
統(tǒng)計(jì)演算機(jī)能	LCD上で統(tǒng)計(jì)データを表示(Pro)
データ転送	USB出力(Pro)
プローブ（本體內(nèi)蔵）	1點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付、φ13
電源	単4乾電池(1.5V×2）、オートパワーオフ
使用溫度	0～40℃（結(jié)露しないこと）
寸法重量	63（W）×84（H）×30（D）mm、約125g
付屬品	標(biāo)準(zhǔn)厚板、テスト用ゼロ板(鉄用、非鉄用）、収納ケース Pro：USBケーブル、USBドライバ(CD)